4系列标准塞规式测量系统
6系列盲孔塞规式测量系统
S00系列两瓣式测量系统
台架系列两瓣式测量系统
M5X-E系列内径表式测量系统
别名:孔径测量仪,电子塞规
常见问题:
答:比较法测量,需要配校对环规。使用校对环规进行零点校准,校对环规的尺寸与孔的最小尺寸相关,如此可以确保在校准过程中极大的减小的轴向和径向的误差。遵循DIN2250-C标准的环规是最适合的校对环规,较大尺寸的环规或最小尺寸、中间尺寸和最大尺寸的校对环规通常是不需要的。
塞规式测量仪的测量范围适用于2.0mm-330mm,但是并不是说一个测头就可以适用这么大的范围。塞规式测头是一对一的,例如您测量10mm,那您就需要选择一个10mm的测头测量,单个测头的标准测量范围根据具体尺寸会有不同:2.0-9.0mm(4系列)的测量范围是0.1mm、7.0-20.0mm(6系列)的测量范围是0.15mm,20-330mm(10系列)的测量范围是0.2mm。
选择测头尺寸时,请您提供工件的公差带及孔的形式。测头的尺寸是按照公差带的下限选定的。具体生产的测头尺寸会按照您公差带下限进行加工,加工时的公差带都是减公差,保证测头能放到工件内进行测量。
塞规式测头一般分为标准孔测头、通孔测头和盲孔测头。您可以根据要测量孔的深度来确定塞规头的形式,如果要测量位置非常靠近根部,可以选用盲孔测头;如果是盲孔,但是不要求测点位置很低,那标准测头就可以满足要求;如果要测量通孔的孔口位置,选用通孔测头。根据测量需求的不同,我们还有其他形式的测头,如加长导向体测头、自动测量用测头等。
如无特殊说明,塞规式测头的测点是硬质合金材质的。根据测量工件的材质不同,我们可以提供陶瓷测点、红宝石测点、钻石测头、塑料测点等等以满足客户的不同测量需求。
塞规式测量仪的标准构成是手柄、显示表、塞规式测头和校对环规。根据客户测量需要和环境的不同,我们可以提供标准附件延长杆以加大测量深度、也可以提供深度限位实现方便测量。同时我们也有电子手柄可以接传感器,可以实现台式测量等。塞规式测量仪的柔性很好,可以满足不同的测量需求。
可以。该系统可以通过有线或无线两种方式把测量数据传输给计算机、电子柱、电箱、Metro的M3显示仪及其它显示装置,并生成SPC图形。